PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統2000µm

PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統2000µm

      PI PIFOC系列的壓電撓性平臺和物鏡掃描儀在定位和掃描任務中提供高動態性。PI用于平行和垂直于光軸的XY試樣定位以及物鏡 Z聚焦的良好適配解決方案可作為標準產品提供。與控制器和所有必需的連接電纜和軟件一起的系統中也可以方便地使用階段。與所有壓電系統一樣，顯微鏡載物臺和掃描儀在交付時都經過測量日志預先校準。

ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統2000µm

納米分辨率和快速步進穩定

-帶有數字控制器、軟件和M32 QuickLock螺紋適配器的完整系統

-USB、RS-232

-傳感器分辨率0.5 nm

-Z堆棧的高動態步進和穩定

-更多螺紋適配器作為可選附件

-與µManager、MetaMorph和MATLAB兼容

-運行中的參數變化

使用增量式線性編碼器進行高精度位置測量

非接觸式光學編碼器以高的精度直接在平臺上測量位置。非線性、機械間隙或彈性變形對測量沒有影響。

PiezoWalk ®行走驅動器的納米精度和高進給力

多個壓電執行器在PiezoWalk®行走驅動器中執行行走運動，導致跑步者向前進給。致動器的控制允許以遠低于一納米的分辨率進行小的步進和前饋運動。

用于快速啟動生產操作的廣泛軟件

得益于MATLAB 和 NI LabVIEW以及所有常見操作系統（Windows、Linux 和 macOS）的支持，集成幾乎可以在所有環境中成功 - 快速高效。復雜的編程示例和PIMikroMove等軟件工具大大縮短了生產操作的時間。

應用領域

-雙光子顯微鏡

-共聚焦顯微鏡

-3D成像

-激光技術

-干涉測量法

-生物技術

-顯微操作

-長行程自動對焦

PI ND72Z2LAQ PIFOC物鏡掃描系統2000µm